| 无线局域网通信芯片可测性设计及实现 |
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| 引用本文： | 吕品. 无线局域网通信芯片可测性设计及实现[J]. 中国集成电路, 2012, 0(10): 61-64 |
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| 作者姓名： | 吕品 |
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| 作者单位： | 北京中电华大电子设计有限责任公司,北京,100102 |
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| 摘 要： | 可测性设计已应用在大规模集成电路设计中。本文介绍了可测性设计原理和实现技术。同时介绍了一款无线局域网(WLAN)芯片,根据该芯片的结构特点,介绍了本款芯片应用的可测性技术以及实现过程,对使用的EDA工具及设计方法进行了深入描述。最后对可测性设计实现的效果进行了说明,并给出部分测试结果。
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| 关 键 词： | WLAN 可测性设计(DFT) SCAN测试 ATPG MBIST |
DFT for WLAN VLSI Circuits |
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| Affiliation: | LU Pin (CEC Huada Electronic Design Co., Ltd.,Beijing100102,China) |
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| Abstract: | DFT is used in VLSI circuit design now. This paper introduce the technic and method of DFT. Introduce the DFT test plan with a WLAN chip, and the realization of the chip is include too. The DFT tool which we used is a point of the design flow. The test result of this DFT plan is good enough for the WLAN chip, and we have get the test report. |
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| Keywords: | WLAN Design For Test(DFT) SCAN ATPG MBIST |
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