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| 有线耳机电连接的可靠性研究 | |
| 引用本文： | 吴秀敏,芦娜.有线耳机电连接的可靠性研究[J].机电元件,2012,32(4):39-43. |
| 作者姓名： | 吴秀敏 芦娜 |
| 作者单位： | 北京邮电大学自动化学院电连接和连接器科研室,北京,100876 |
| 摘 要： | 影响有线耳机可靠性的因素很多,比如接口的物理结构、所选择的接触材料,接触的几何形状,镀层的质量等.本文以三种不同镀层材料的耳机为研究对象,对其进行插拔寿命试验和湿热循环试验,以接触电阻为参数来衡量样品的电接触可靠性能. |
| 关 键 词： | 耳机 接触电阻 插拔寿命试验 湿热循环试验 |
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