高纯纳米α-Al2O3的连续批量制备与表征

通过 HLG-30型纳米化粉碎机批量制备纳米 Al2O3,使用纳米激光粒度仪分析其粒度及粒度分布,并用扫描电子显微镜（SEM）和透射电子显微镜（TEM）观察其大小和形貌,采用 X 射线衍射（XRD）表征其晶型结构,通过电感耦合等离子体发射光谱（ICP-AES）检测杂质元素的含量,研究其纯度。结果表明,制备所得的 Al2O3粒度分布窄,大部分颗粒的粒径〈40 nm,为α型晶体,并且纯度〉99.99%,具有广阔的应用前景。