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基片温度对脉冲激光沉积ZnO薄膜性质的影响
引用本文:陈江博,王丽,苏雪琼,刘红梅,王荣平. 基片温度对脉冲激光沉积ZnO薄膜性质的影响[J]. 中国激光, 2009, 36(6). DOI: 10.3788/CJL20093606.1539
作者姓名:陈江博  王丽  苏雪琼  刘红梅  王荣平
作者单位:1. 北京工业大学应用数理学院,北京,100124
2. 澳大利亚国立大学激光物理中心,澳大利亚,ACT0200
摘    要:本文基于脉冲激光沉积(PLD)方法,利用光谱物理GCR-170型脉冲激光器Nd:YAG的三次谐波,实验上完成了在Al2O3(0001)基片上生长了ZnO薄膜.利用原子力显微镜(AFM)、光致发光(PL)谱和光学透射谱对不同基片温度下沉积的ZnO薄膜的表面形貌和光学特性进行研究.结果表明,沉积时的基片温度对ZnO薄膜的结构和特性有显著影响.在基片温度为500℃时沉积的ZnO薄膜结构致密均匀,并表现出很强的紫外发射.通过紫外一可见透射光谱的测量,讨论了沉积时的基片温度对ZnO薄膜光学透射率的影响.

关 键 词:材料  ZnO薄膜  脉冲激光沉积  表面形貌  光致发光  透射光谱

Affect of ZnO Thin Film of Pulsed Laser Deposition by Substrate Temperatures
Chen Jiangbo,Wang Li,Su Xueqiong,Liu Hongmei,Wang Rongping. Affect of ZnO Thin Film of Pulsed Laser Deposition by Substrate Temperatures[J]. Chinese Journal of Lasers, 2009, 36(6). DOI: 10.3788/CJL20093606.1539
Authors:Chen Jiangbo  Wang Li  Su Xueqiong  Liu Hongmei  Wang Rongping
Abstract:
Keywords:
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