| 易测试PLA的一种新设计及其测试方法 |
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| 引用本文： | 张微,叶志镇.易测试PLA的一种新设计及其测试方法[J].浙江大学学报(自然科学版 ),1996,30(6):729-735. |
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| 作者姓名： | 张微 叶志镇 |
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| 作者单位： | 浙江省电力职工大学，浙大硅材料国家重点实验室 |
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| 摘 要： | 本文提出了一种易测试ＰＬＡ的新设计，这种设计使ＰＬＡ易于测试，所增加的硬件只是一个ｍ位移位寄存器．本文还详述了对这种ＰＬＡ进行测试的方法，该测试方法只需要很少的测试向量，测试结果计算简单，具有很高的故障复盖率．
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| 关 键 词： | 可编逻辑阵列PLA 测试向量 故障复盖率 |
New design of easily testable PLA and its test methods |
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| Zhang Wei.New design of easily testable PLA and its test methods[J].Journal of Zhejiang University(Engineering Science),1996,30(6):729-735. |
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| Authors: | Zhang Wei |
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| Abstract: | A new approach to the design of programmable logic array (PLA) is proposed.This PLAA canbe easily tested and yet, only one extra hardware is added, mainly a m-bit shift register. Themethods of testing the PLA are also detailed. These methods require few test vectors for testing,evaluate the test easily and obtain high fault coverage. |
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| Keywords: | programmable logic array(PLA) test vectors fault coverage |
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