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宽禁带半导体SiC功率器件发展现状及展望
引用本文:张波,邓小川,张有润,李肇基.宽禁带半导体SiC功率器件发展现状及展望[J].中国电子科学研究院学报,2009,4(2).
作者姓名:张波  邓小川  张有润  李肇基
作者单位:电子科技大学电子薄膜与集成器件国家重点实验室,成都,610054
摘    要:碳化硅(SiC)是第三代半导体材料的典型代表,也是目前晶体生长技术和器件制造水平最成熟、应用最广泛的宽禁带半导体材料之一,是高温、高频、抗辐照、大功率应用场合下极为理想的半导体材料.文章结合美国国防先进研究计划局DARPA的高功率电子器件应用宽禁带技术HPE项目的发展,介绍了SiC功率器件的最新进展及其面临的挑战和发展前景.同时对我国宽禁带半导体SiC器件的研究现状及未来的发展方向做了概述与展望.

关 键 词:宽禁带半导体  碳化硅  功率器件

Recent Development and Future Perspective of Silicon Carbide Power Devices--Opportunity and Challenge
ZHANG Bo,DENG Xiao-chuan,ZHANG You-run,LI Zhao-ji.Recent Development and Future Perspective of Silicon Carbide Power Devices--Opportunity and Challenge[J].Journal of China Academy of Electronics and Information Technology,2009,4(2).
Authors:ZHANG Bo  DENG Xiao-chuan  ZHANG You-run  LI Zhao-ji
Affiliation:State Key Laboratory of Electronic Thin Films and Integrated Devices;University of Electronic Science and Technology of China;Chengdu 610054;China
Abstract:
Keywords:wide bandgap  silicon carbide  power devices  
本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录!
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