首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
     

HS—3282ARINC429总线接口电路测试方法和技巧
引用本文:李桂华,姚秀华.HS—3282ARINC429总线接口电路测试方法和技巧[J].微处理机,1994(2):28-31.
作者姓名:李桂华  姚秀华
作者单位:电子工业部东北微电子研究所!沈阳110032
摘    要:本文针对HS一3282ARIN429数据输入格式的特殊要求,在DIC一8032测试系统上给出了巧妙的解决方法,满足了器件要求。由于该电路可以对数据进行单一并转换和并一串转换,并有多种工作方式,这就要求有大量的测试图形。本文采用的是宏定义法生成输入图形,然后用ROMCOPY程序生成测试矢量的方法,减少了手工填写码点的工作量。HS一3282测试程序经过实际运用证明:测试码点完整、全面,测试方法严谨、可靠。

关 键 词:ARINC总线  电路测试  总线接口
本文献已被 CNKI 维普 等数据库收录!
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号