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X射线光刻技术应用现状与前景
引用本文:谢常青,陈大鹏,刘明,叶甜春,伊福廷.X射线光刻技术应用现状与前景[J].核技术,2004,27(12):904-908.
作者姓名:谢常青  陈大鹏  刘明  叶甜春  伊福廷
作者单位:中国科学院微电子研究所微细加工与纳米技术研究室,北京,100029;中国科学院高能物理研究所同步辐射实验室,北京,100049
摘    要:鉴于接近式X射线光刻技术具有高分辨率、大焦深、大曝光像场、高产量、大工艺宽容度、易于扩展到50am及50am以下规则等诸多优点,它非常适合应用于100nm及100nm以下集成电路的生产。本文首先简要介绍了国际上X射线光刻技术(PXL)现状,再分别介绍X射线光刻技术在纳米电子学研究、单片微波集成电路(MMIC)生产、硅基超大规模集成电路生产中的应用现状与前景,并对国内的X射线光刻技术的近期研究进展进行了简要介绍。

关 键 词:接近式X射线光刻  纳米电子学  单片微波集成电路  硅基超大规模集成电路

Application status and prospect of X-ray lithography technology
Abstract:
Keywords:
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