国外资料索引

一、红外技术 871 PbSnTe探测器制造工艺评价 Evaluation of PbsnTe detector fabrication procedures,R.E.Longshore,1973 Inter.Elect.Devices Meeting Tech.Dig.,p.266-8. 可得3～14微米探测器。其特性和制造工艺关系很大,为提高性能需测定各工序的影响。本文介绍用Auger 电子光谱计在PbSnTe制成后进行检验。介绍了有关表面处理的数据。