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VStation 硬件辅助验证平台 在高性能CPU功能验证中的应用
作者姓名:王沛  任浩琪  钟文枫
作者单位:1. 同济大学微电子中心
2. Mentor Graphics
摘    要:现代集成电路设计中,半导体制造工艺已逐渐向亚微米、深亚微米发展,90纳米、65纳米工艺已经成熟应用于生产,基于IP复用技术在SoC设计中广泛采用,这促使芯片的规模越来越大,功能也日益复杂.

关 键 词:功能验证  验证平台  应用  CPU  集成电路设计  半导体制造工艺  芯片设计  硬件
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