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| 集成电路辐射敏感度混响室测试方法 | |
| 引用本文： | Teseq GmbH,Ralf Heinrich,Robert Bechly,黄锐明.集成电路辐射敏感度混响室测试方法[J].安全与电磁兼容,2014(5). |
| 作者姓名： | Teseq GmbH Ralf Heinrich Robert Bechly 黄锐明 |
| 摘 要： | 介绍了混响室测试法的工作原理,并通过对GTEM法与混响室法的测试方法和测试结果的对比分析,表明混响室测试方法在1 GHz以上的高频范围测量集成电路(IC)的辐射敏感度更有优势. |
| 关 键 词： | 混响室 电磁兼容 集成电路 发射 敏感度 |
Radiated Immunity Test of Integrated Circuits in Reverberation Chamber |
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