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平面光栅衍射效率的双光束高精度测试
引用本文:印建平.平面光栅衍射效率的双光束高精度测试[J].计量学报,1995,16(3):212-216.
作者姓名:印建平
作者单位:苏州大学分析测试中心
摘    要:本文提出了一种双光束检测器测试平面光栅衍射效率的新方法,文中重点介绍了测试平面光栅绝对与相对衍射效率的基本原理和方法,导出了相应的效率计算公式,并给出实验结果。研究表明,本方法不仅能有效地消除光源波动所带来的影响,提高测试精度,而且可从根本上解决传统双光束测试中因两个探测器光谱响应的不同给自动归一化所带来的问题,因而本方法既能用于光栅衍射效率的光谱定点测试,还可实现光谱衍射效率曲线的全波段自动扫描记录。

关 键 词:平面光栅  衍射效率  双光束  检测器  自动测试

Accurate Measurement of the Diffraction Efficiency of Plane Grating
Yin Jianping.Accurate Measurement of the Diffraction Efficiency of Plane Grating[J].Acta Metrologica Sinica,1995,16(3):212-216.
Authors:Yin Jianping
Abstract:
Keywords:Plane grating  Diffraction efficiency  Double-beam and single  detector  Spectral measurement with point by point  Automatic measurement over whole wavelength range
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