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微质量测量
引用本文:吕宏强. 微质量测量[J]. 现代电子技术, 2003, 0(1): 55-56,58
作者姓名:吕宏强
作者单位:宝鸡文理学院,物理系,陕西,宝鸡,721007
摘    要:在介绍压电石英晶体表面对微小物体的质量敏感性的基础上,设计了用单片机测量微小质量的基本电路,分析了测量算法,给出了软件流程图。

关 键 词:微质量 测量 石英谐振器 质量敏感 测量算法 MCU 微处理器 单片机 软件流程图
文章编号:1004-373X(2003)01-055-02

Measuring Micro-mass
LU Hongqiang. Measuring Micro-mass[J]. Modern Electronic Technique, 2003, 0(1): 55-56,58
Authors:LU Hongqiang
Abstract:
Keywords:quartz resonater  mass sensitivity  arithactic of measuring  MCU  
本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录!
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