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| CCD成像系统性能检测装置 | |
| 作者单位： | 中国计量科学研究院光学处,北京100013;中国计量科学研究院光学处,北京100013;中国计量科学研究院光学处,北京100013;中国计量科学研究院光学处,北京100013;中国计量科学研究院光学处,北京100013 |
| 摘 要： | |
| 关 键 词： | CCD成像系统 辅助功能靶板 面响应度均匀性 响应度线性 |
| 本文献已被 万方数据 等数据库收录！ | |
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