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基于响应面法的原子层沉积高阻隔膜研究
引用本文:赵丽丽,林晶,于贵文,董静.基于响应面法的原子层沉积高阻隔膜研究[J].包装工程,2022,43(23):167-173.
作者姓名:赵丽丽  林晶  于贵文  董静
作者单位:哈尔滨商业大学 包装科学与工程技术实验室,哈尔滨 150028
基金项目:哈尔滨商业大学青年创新人才计划(18XN032);黑龙江高校科技成果(TSTAU–R2018009)
摘    要:目的 研究分析等离子辅助原子层沉积技术(ALD)技术在PET表面上沉积超薄Al2O3阻隔层的工艺优化。方法 采用单因素结合响应面设计试验法,对Al2O3/PET薄膜的沉积速率(GPC)进行优化,通过AFM分析得到薄膜的生长模式和表面粗糙度,最后用水蒸气透过率表征薄膜的阻隔性能。结果 最大GPC的沉积参数:TMA脉冲时间为0.17 s、吹扫时间为11 s、O2的脉冲时间为0.35 s、吹扫时间为10 s、沉积速率为0.215 nm/cycle;薄膜以层状生长模式生长,表面粗糙度均方根(RMS)为0.58 nm;沉积500个循环后薄膜的水透过率从7.456 g?d/m2降低到0.319 g?d/m2。结论 通过响应面法优化了ALD制备工艺参数,Al2O3在PET表面沉积100 nm左右时,水蒸气阻隔性提高了25倍。

关 键 词:原子层沉积  Box–Behnken响应面法  Al2O3/PET高阻隔膜

Atomic Layer Deposition of High Barrier Films Based on Response Surface Method
ZHAO Li-li,LIN Jing,YU Gui-wen,DONG Jing.Atomic Layer Deposition of High Barrier Films Based on Response Surface Method[J].Packaging Engineering,2022,43(23):167-173.
Authors:ZHAO Li-li  LIN Jing  YU Gui-wen  DONG Jing
Affiliation:Packaging Science and Printing Technology Engineering Laboratory, Harbin University of Commerce, Harbin 150028, China
Abstract:
Keywords:atomic layer deposition  Box-Behnken response surface method  Al2O3/PET high barrier film
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