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| 顶空法同时测定液晶材料中4种有机溶剂残留 | |
| 作者姓名： | 霍学兵 靳洁阳 刘方方 张鹏 韩锦伟 |
| 作者单位： | 阜阳欣奕华材料科技有限公司,安徽阜阳,236000;阜阳欣奕华材料科技有限公司,安徽阜阳,236000;阜阳欣奕华材料科技有限公司,安徽阜阳,236000;阜阳欣奕华材料科技有限公司,安徽阜阳,236000;阜阳欣奕华材料科技有限公司,安徽阜阳,236000 |
| 摘 要： | |
| 关 键 词： | 顶空气相色谱法 溶剂残留 液晶 |
| 本文献已被 万方数据 等数据库收录！ | |
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