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一种应用于LDO的高性能过温保护电路设计
引用本文:王进军,王侠,史永胜,马颖. 一种应用于LDO的高性能过温保护电路设计[J]. 陕西科技大学学报, 2009, 27(3): 98-100,105
作者姓名:王进军  王侠  史永胜  马颖
作者单位:西安科技大学电气与控制工程学院,陕西,西安,710054 
基金项目:陕西科技大学校级自选科研项目 
摘    要:采用UMC 0.6 μm BiCMOS工艺设计了一款应用于LDO的高性能过温保护电路,该电路具有20 ℃的温度滞回区间,热关断点温度160 ℃、热开启点温度140 ℃,同时在输入电压2.5 ~6 V范围内热关断点、开启点温度最大漂移不超过6 ℃,具有较高的精度,满足LDO宽输入电压范围的要求.

关 键 词:过温保护

DESIGN A HIGH-PERFORMANCE THERMAL-SHUTDOWN CIRCUIT USED IN LDO
WANG Jin-jun,WANG Xia,SHI Yong-sheng,MA Ying. DESIGN A HIGH-PERFORMANCE THERMAL-SHUTDOWN CIRCUIT USED IN LDO[J]. Journal of Shaanxi University of Science & Technology(Natural Science Edition), 2009, 27(3): 98-100,105
Authors:WANG Jin-jun  WANG Xia  SHI Yong-sheng  MA Ying
Abstract:
Keywords:LDO  BiCMOS
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