| 钨制品的扫描电镜分析 |
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| 引用本文： | 王长基,刘鸿,谢璐,杜香珍,李军,华娟霞,龙水秀. 钨制品的扫描电镜分析[J]. 中国钨业, 2012, 0(5): 36-39 |
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| 作者姓名： | 王长基 刘鸿 谢璐 杜香珍 李军 华娟霞 龙水秀 |
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| 作者单位： | 1. 赣州有色冶金研究所,江西 赣州 341000
2. 赣州华兴钨制品有限公司,江西 赣州 341000 |
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| 摘 要： | 介绍了扫描电镜的分析原理及其在APT、蓝钨、黄钨、紫钨、钨粉、碳化钨粉等钨制品的形貌、粒度分布分析上的应用,对钨制品的质量控制具有指导意义。
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| 关 键 词： | 扫描电镜 形貌 钨制品 粒度分布 |
Scanning Electronic Microscope Analysis of Tungsten Products |
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| WANG Chang-ji,LIU hong,XIE lu,DU Xiang-zhen,LI Jun,HUA Juan-xia,LONG Shui-xiu. Scanning Electronic Microscope Analysis of Tungsten Products[J]. China Tungsten Industry, 2012, 0(5): 36-39 |
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| Authors: | WANG Chang-ji LIU hong XIE lu DU Xiang-zhen LI Jun HUA Juan-xia LONG Shui-xiu |
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| Affiliation: | 1.Ganzhou Nonferrous Metallurgy Research Institute,Ganzhou 341000,Jiangxi,China; 2.Ganzhou Huaxing Tungsten Products Co.,Ltd,Ganzhou 341000,Jiangxi,China) |
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| Abstract: | This article introduces the application of SEM in measuring the surface shape and particle size distribution of blue tungsten, yellow tungsten, purple tungsten, tungsten powder, tungsten carbide powder based on elaborating the importance of the physical properties of tungsten products. It has guiding significance in the quality control of tungsten products. |
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| Keywords: | Scanning Electronic Microscope （SEM）： topography： tungsten Products particle size distribution |
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