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| 用相对法和单一比较器法测定硅材料中的痕量元素 | |
| 作者姓名： | 钟红海 许汉卿 凌育远 胡国辉 |
| 作者单位： | 广东省测试分析研究所(钟红海，许汉卿，凌育远)，广东省测试分析研究所(胡国辉) |
| 摘 要： | 本工作采用相对法和以Au为比较器的单一比较铝法分别测定了单晶和多晶硅中的Na、Au、Cu、Sb、Co、As、Cr、Ag等8种元素的含量,两种方法的结果相一致。 1.实验 (1) 硅样品和标准的制备 将单晶(或多晶)硅切割成20×20×5(mm)的方块(重约5～6g),用高纯铝箔封装备辐照。用光谱纯或高纯试剂制成待测元素混合标准溶液。 (2) 比较器的制备 把1μg的Au标准溶液放在石英管中,待蒸干后进行封装。在这种条件下,这些物 |
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