JT—60U中磁场波纹对H模式性能的影响

本文研究了JT－60U中环向场波纹对总H模式性能的影响。波纹的大小随等离子体体积的改变而变化。用监测到第一壁的局部热负载，已测出了波纹损失，并用轨道追踪蒙特卡罗编码模拟了这种波纹损失。在把净输入功率作了波纹捕获得 损失和香蕉漂移损失修正后，发现总H因子对波纹的大小不是很敏感。对ρ＝0.9处波纹引起的输运系数的理论分析证实了这些结果。