首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
     

磁控溅射低温制备ZnO:Al透明导电薄膜的正交设计
引用本文:王涛,刁训刚,舒远杰,武哲. 磁控溅射低温制备ZnO:Al透明导电薄膜的正交设计[J]. 功能材料, 2007, 38(3): 369-372
作者姓名:王涛  刁训刚  舒远杰  武哲
作者单位:1. 北京航空航天大学,理学院,北京,100083
2. 中国工程物理研究院,化工材料研究所,四川,绵阳,621900
3. 北京航空航天大学,航空科学与技术学院,北京,100083
基金项目:国家自然科学基金 , 中国工程物理研究院"双百"人才基金
摘    要:采用锌铝(2%(质量分数))合金靶,保持真空腔在50℃低温下,结合正交试验表,运用直流反应磁控溅射法制得ZnO∶Al(ZAO)薄膜.通过分光光度计、半导体霍尔效应测试等手段对薄膜各项性能进行了表征.通过正交分析法对所得样品相关特征指标进行分析,在少量的9组实验下,得到溅射功率、时间、靶基距和氧流量百分比4个独立工艺参数对薄膜特性影响的同时,得出直流反应磁控溅射法制备ZAO薄膜的最优组合工艺为:溅射时间20min,靶基距6cm,溅射功率80W,氧流量百分比7%;对应样品的Фic值达4.1050×10-2/Ω,电阻率为3.9×10-4Ω·cm,载流子浓度达1.09×1021/cm3.

关 键 词:ZAO薄膜  正交设计  低温  磁控溅射
文章编号:1001-9731(2007)03-0369-04
修稿时间:2006-09-19

Orthogonal design for fabrication of transparent conductive ZnO:Al films by DC magnetron sputtering at low temperature
WANG Tao,DIAO Xun-gang,SHU Yuan-jie,WU Zhe. Orthogonal design for fabrication of transparent conductive ZnO:Al films by DC magnetron sputtering at low temperature[J]. Journal of Functional Materials, 2007, 38(3): 369-372
Authors:WANG Tao  DIAO Xun-gang  SHU Yuan-jie  WU Zhe
Affiliation:1. School of Science, Beihang University, Beijing 100083, China; 2. Institute of Chemical Materials, CAEP, Mianyang 621900, China; 3. School of Aeronautic Science and Technology, Beihang University, Beijing 100083,China
Abstract:
Keywords:ZAO films   orthogonai design   low substrate temperature   magnetron sputtering
本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录!
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号