| 双极运算放大器辐射损伤效应研究 |
| |
| 引用本文： | 郑玉展,陆妩,任迪远,王改丽,文林,孙静. 双极运算放大器辐射损伤效应研究[J]. 核技术, 2008, 31(4): 270-274 |
| |
| 作者姓名： | 郑玉展 陆妩 任迪远 王改丽 文林 孙静 |
| |
| 作者单位： | 中国科学院新疆理化技术研究所,乌鲁木齐,830011;中国科学院研究生院,北京,100049;中国科学院新疆理化技术研究所,乌鲁木齐,830011;新疆大学物理学院,乌鲁木齐,830046 |
| |
| 摘 要： | 本文研究了不同制造商的同型号双极运算放大器的辐射效应和室温退火行为,发现同型号产品的辐射效应有很大差异.我们分析了此类辐射效应差异的主要原因,对双极运算放大器高低剂量率下的辐射效应作了解释.计算了它们的损伤增强因子和退火因子,结果表明,同种型号运放电路的损伤增强因子间的最大差异可达约8倍.
|
| 关 键 词： | 双极运算放大器 60Coγ辐射 辐射效应 增强因子 |
| 修稿时间： | 2007-11-02 |
Investigation on radiation effects of bipolar operational amplifiers |
| |
| ZHENG Yuzhan,LU Wu,REN Diyuan,WANG Gaili,WEN Lin,SUN Jing. Investigation on radiation effects of bipolar operational amplifiers[J]. Nuclear Techniques, 2008, 31(4): 270-274 |
| |
| Authors: | ZHENG Yuzhan LU Wu REN Diyuan WANG Gaili WEN Lin SUN Jing |
| |
| Abstract: | |
| |
| Keywords: | |
| 本文献已被 维普 万方数据 等数据库收录！ |
|
