微机控制时间继电器参数测试系统 |
| |
引用本文: | 黎烽.微机控制时间继电器参数测试系统[J].微处理机,1993(4):31-34. |
| |
作者姓名: | 黎烽 |
| |
作者单位: | 上海大学工学院 200032 |
| |
摘 要: | 本文介绍一个以APPLE—I兼容微机系统为测控核心的时间继电器参数自动测试系统的硬件、软件设计和工作原理。该系统只需输入被测试品的型号规格就能自动完成10个被测件的延时值及其重复动作误差、电源波动误差的同时测试,并进行数据统计、质量评判和结果打印。整个测试系统采用总线式结构,具有结构简单,便于维护,工作稳定可靠的优点。
|
关 键 词: | 时间继电器 微机控制 参数 测试 |
本文献已被 CNKI 维普 等数据库收录! |
|