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微机控制时间继电器参数测试系统
引用本文:黎烽.微机控制时间继电器参数测试系统[J].微处理机,1993(4):31-34.
作者姓名:黎烽
作者单位:上海大学工学院 200032
摘    要:本文介绍一个以APPLE—I兼容微机系统为测控核心的时间继电器参数自动测试系统的硬件、软件设计和工作原理。该系统只需输入被测试品的型号规格就能自动完成10个被测件的延时值及其重复动作误差、电源波动误差的同时测试,并进行数据统计、质量评判和结果打印。整个测试系统采用总线式结构,具有结构简单,便于维护,工作稳定可靠的优点。

关 键 词:时间继电器  微机控制  参数  测试
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