| VLSI功能测试的最佳测试序列的选取 |
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| 引用本文： | 曾成碧,陈光.VLSI功能测试的最佳测试序列的选取[J].电子科技大学学报（自然科学版）,2000,29(2):178-181. |
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| 作者姓名： | 曾成碧 陈光 |
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| 作者单位： | 1.四川大学电力系 成都 610065; |
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| 摘 要： | 介绍了VLSI功能测试向量生成的Petri网模型和Petri网模拟测试序列中指令的关系,构造了压缩存储网络的拓扑信息的Petri网简约矩阵。用Petri网简约矩阵检查测试序列的不确定度,使测试序列不确定度最小,从而优化了测试序列,即从给定的指令中选出了最佳测试序列。
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| 关 键 词： | 最佳测试序列 功能测试 数字电路 Petri网 |
| 收稿时间： | 1999-10-25 |
Choice of Best Test Sequence for VLSI Functional Testing |
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| Zeng Chengbi,Chen Guangju.Choice of Best Test Sequence for VLSI Functional Testing[J].Journal of University of Electronic Science and Technology of China,2000,29(2):178-181. |
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| Authors: | Zeng Chengbi Chen Guangju |
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| Affiliation: | 1.Dept. of Electrical Power Engineering,Sichuan University Chengdu 610065;2.CAT Lab.,UEST of China Chengdu 610054 |
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| Abstract: | This paper introduces Petri net model of functional test pattern generation for VLSI. Relationships between operators involved in test sequence are accomplished via Petri. Reduced matrix compacting storage of net topology is constructed. Ambiguity of test sequence is checked via Petri net matrix. Test pattern is optimized and the best test sequence is got. |
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| Keywords: | |
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