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| BESⅢ读出系统测试与研发中的前端电子学模拟 | |
| 引用本文： | 雷广坤,王靓,朱海涛,初元萍,朱科军,赵京伟.BESⅢ读出系统测试与研发中的前端电子学模拟[J].核电子学与探测技术,2007,27(2):250-253. |
| 作者姓名： | 雷广坤 王靓 朱海涛 初元萍 朱科军 赵京伟 |
| 作者单位： | 中国科学院高能物理研究所,北京,100049;中国科学院研究生院,北京,100049;中国科学院高能物理研究所,北京,100049 |
| 摘 要： | 介绍了BESⅢ读出系统测试与研发中利用MVME2431单板计算机对前端电子学的模拟实现。叙述了BESⅢ前端电子学系统的功能及模拟其系统的目的；着重介绍模拟所采用的技术路线和实现办法，并对电子学模拟的整体性能进行了客观评估。 |
| 关 键 词： | PowerPC VME BES Ⅲ 数据获取 读出系统 系统模拟 |
| 文章编号： | 0258-0934(2007)02-0250-04 |
| 修稿时间： | 2005年11月21 |
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