| Sn-Ag-Cu BGA元件使用共晶Pb-Sn焊膏的焊点可靠性（一） |
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| 作者姓名： | 康雪晶（编译） Fay Hua Raiyo Aspandiar Cameron Anderson Greg Clemons Chee-key Chung Mustapha Faizul |
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| 基金项目： | 作者向英特尔公司管理层的支持表示感谢.特别是感谢Mike Garner,Vivek Bissessur and Vivek Gupta在研究中给予的大力支持.同样向chee-key chung的协助表示感谢. |
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| 摘 要： | 在电子产业无铅化的转折期。元件供应商也许要为区分无铅与含铅的不同元件而准备双重的生产线。这会给制造部门的后勤供应带来问题。当生产中实现全部的无铅化后，这一问题才可能解决。因此，研究Sn—Ag—CuBGA元件使用共晶Pb—Sn焊膏的焊点可靠性问题，在当前非常必要。本文提出了关于VFBGA（极细间距BGA）及SCSP（芯片级尺寸封装）无铅封装元件在印刷电路板（PCB）组装中使用共晶Pb—Sn焊膏的焊点可靠性评估。在标准的Pb—Sn组装环境下，使用了各种不同的回流曲线。峰值温度从208℃至222℃。回流曲线类型为浸润型曲线（Soak Profile）及帐篷型曲线（Direct Ramp Up Profile）。组装后的PCB板被选择进行了板级温度循环测试（-40℃至125℃，每30分钟循环一次）及跌落测试。失效细节分析同样会在本文提及。
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| 关 键 词： | 焊点 可靠性 BGAs 无铅 Pb—Sn与Sn—Ag—Cu焊点兼容性 |
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