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一种深低温环境LVDS驱动电路
引用本文:蒋大钊,丁瑞军. 一种深低温环境LVDS驱动电路[J]. 微电子学, 2019, 49(5): 648-652
作者姓名:蒋大钊  丁瑞军
作者单位:中国科学院上海技术物理研究所 中国科学院红外成像材料与器件重点实验室, 上海 200083;中国科学院大学, 北京 100049,中国科学院上海技术物理研究所 中国科学院红外成像材料与器件重点实验室, 上海 200083
基金项目:国家自然科学基金重点项目(61534006)
摘    要:研究了深低温环境下MOS管与LVDS驱动电路的工作特性。与常温环境相比,LVDS电路在77 K环境下的输出电流更大,导致输出差分信号幅值增大。MOS管在77 K低温环境下的载流子迁移率为常温下的3倍,导致器件电流增大。根据低温条件下器件变化特性的数据分析结果,调节电路结构与器件参数,设置多档可调参考电流,并调节LVDS输出信号于标准范围内。采用标准0.35 μm CMOS工艺进行流片验证。结果表明,LVDS驱动电路在77 K环境下工作时,共模电平为1.2 V,电压摆幅为400 mV。

关 键 词:焦平面阵列   读出电路   低温特性   数字接口
收稿时间:2018-12-10

A LVDS Driver Circuit for Deep Low Working Temperature
JIANG Dazhao and DING Ruijun. A LVDS Driver Circuit for Deep Low Working Temperature[J]. Microelectronics, 2019, 49(5): 648-652
Authors:JIANG Dazhao and DING Ruijun
Abstract:
Keywords:
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