| 系统芯片(SOC)测试 |
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| 引用本文： | 时万春. 系统芯片(SOC)测试[J]. 电子测量与仪器学报, 2004, 18(Z1): 10-15 |
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| 作者姓名： | 时万春 |
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| 作者单位： | 中国科学院计算技术研究所,北京,100080 |
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| 摘 要： | SOC是一种比较有特点的集成电路,它不能像传统的集成电路那样进行测试.除了超过10亿位的数字通讯链路和已达千兆赫的工作速度,一个SOC可能已经包括了所有类型的逻辑电路、多种CPU、各种模拟模块和几百种不同类型的存储器.特别是它面临着测试的挑战,比如时钟域的增加、复用"黑盒"芯核或IP元件的使用,以及它们之间混合IP和匹配IP芯核的应用.它们实际上可能已经使用了不同的测试方法学.本文试图划出SOC的范畴、规范SOC测试特性、回顾SOC测试的发展,分析SOC测试方法学和SOC测试系统特性.
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| 关 键 词： | 并发测试 测试方法学 |
System On-a-Chip (SOC) Testing |
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| Shi wan-chun. System On-a-Chip (SOC) Testing[J]. Journal of Electronic Measurement and Instrument, 2004, 18(Z1): 10-15 |
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| Authors: | Shi wan-chun |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | SOC |
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