| 基于嵌入式技术的太阳电池I-V性能测试仪 |
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| 引用本文： | 袁俊明,周文利,王晓晶,甘天罡,温丹,于军.基于嵌入式技术的太阳电池I-V性能测试仪[J].仪表技术与传感器,2011(8). |
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| 作者姓名： | 袁俊明 周文利 王晓晶 甘天罡 温丹 于军 |
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| 作者单位： | 华中科技大学电子科学与技术系,湖北武汉,430074 |
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| 摘 要： | 设计了一款基于嵌入式技术的手持式太阳电池I-V性能测试仪.该测试仪以ARM920体系芯片S3C2440为核心,通过采集太阳电池电压、电流、光强和温度4路信号并通过对信号数据的处理,测得太阳能电池开路电压、短路电流、最佳工作点、串联电阻、并联电阻、电池效率等关键参数,并在触摸屏上实时显示I-V曲线.目前该项目已完成系统硬件设计与调试和测试界面程序的设计.调试结果表明系统工作稳定,系统功耗小.界面简洁、运行流畅、操作简单.
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| 关 键 词： | 嵌入式技术 太阳电池 I-V性能 触摸屏 手持仪器 |
I-V Characteristics Tester for Solar Cells Based on Embedded Technology |
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| YUAN Jun-ming,ZHOU Wen-li,WANG Xiao-jing,GAN Tian-gang,WEN Dan,YU Jun.I-V Characteristics Tester for Solar Cells Based on Embedded Technology[J].Instrument Technique and Sensor,2011(8). |
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| Authors: | YUAN Jun-ming ZHOU Wen-li WANG Xiao-jing GAN Tian-gang WEN Dan YU Jun |
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