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低压VDMOS金属层电阻的模拟分析
引用本文:王立新, 夏洋,. 低压VDMOS金属层电阻的模拟分析[J]. 电子器件, 2008, 31(3): 783-785
作者姓名:王立新   夏洋  
作者单位:中国科学院微电子研究所,北京,100029;中国科学院微电子研究所,北京,100029
摘    要:通过Dracula版图参数提取工具对某型号VDMOS金属层提取电阻模型,并对此模型进行Hspice模拟,确定了金属层厚度大于5 μm时,金属层电阻对VDMOS的导通电阻影响较小.同时提出了双层金属工艺方法,实现VDMOS金属层的全湿法腐蚀.

关 键 词:VDMOS  Dracula  电阻模型
文章编号:1005-9490(2008)03-0783-03
修稿时间:2007-05-12

Simulation and Analysis of Metal Layer Resistance of Low Voltage VDMOS
WANG Li-xin,XIA Yang. Simulation and Analysis of Metal Layer Resistance of Low Voltage VDMOS[J]. Journal of Electron Devices, 2008, 31(3): 783-785
Authors:WANG Li-xin  XIA Yang
Affiliation:WANG Li-xin,XIA Yang(Institute of Microelectronics of Chinese Academy of Sciences,Beijing 100029,China)
Abstract:
Keywords:VDMOS  dracula  resistunce modle  
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