|
|||||
|
|
| ICP-AES法测定钼铁中杂质元素Si、P、Cu | |
| 引用本文： | 吴启.ICP-AES法测定钼铁中杂质元素Si、P、Cu[J].涟钢科技与管理,2009(4):6-7. |
| 作者姓名： | 吴启 |
| 作者单位： | 质量检验中心 |
| 摘 要： | 研究了用ICP—AES法测定钼铁中杂质元素Si、P、Cu的方法，建立了试样的最佳处理方法和仪器的最佳工作条件，采用基体匹配法以及应用软件中谱线干扰校正程序消除基体以及共存元素对元素分析谱线的干扰，并进行了精密度和准确度实验，效果令人满意。 |
| 关 键 词： | 杂质元素 AES ICP Si 钼铁 测定 Cu 基体匹配法 |
| 本文献已被 CNKI 维普 等数据库收录！ | |