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| 电测量与仪表 | |
| 摘 要： | 0013241分层媒质复介电常数测量的一种方法刊]/马国田//微波学报.—2000,16(2).—122～125(L)本文给出一种测量分层媒质复介电常数的方法,经过多次测量复反射系数并建立恰当的目标函数,采用遗传算法求解这一优化问题可得到分层媒质的参数。测量结果表明,对于层数较少的媒质,在各分层厚度未知的情况下仍可测得各分层的复介电常数,同时测得分层厚度。参5 |
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