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DOI
责任编辑
分类号
杂志ISSN号
可靠性数据处理与分析技术研究
作者姓名:
陈学军 苏振华
作者单位:
电子部五所!广州510610,美国乔治·华盛顿大学统计系,电子部五所!广州510610
摘 要:
本文通过地影响电子设备工作、非可行性诸因素的分析,得到电子设备可靠性预计一般模型。对零失效数据处理、数据的一般要求及数据质量的判别异常数据处理的研究,以保证用于可靠性预计建模数据的良好性,进而探讨了发分析在可靠性预计建模中的应用。
关 键 词:
可靠性 回归分析 数据处理 电子设备
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