|
|||||
|
|
| 可靠性数据处理与分析技术研究 | |
| 作者姓名： | 陈学军 苏振华 |
| 作者单位： | 电子部五所!广州510610，美国乔治·华盛顿大学统计系，电子部五所!广州510610 |
| 摘 要： | 本文通过地影响电子设备工作、非可行性诸因素的分析，得到电子设备可靠性预计一般模型。对零失效数据处理、数据的一般要求及数据质量的判别异常数据处理的研究，以保证用于可靠性预计建模数据的良好性，进而探讨了发分析在可靠性预计建模中的应用。 |
| 关 键 词： | 可靠性 回归分析 数据处理 电子设备 |
| 本文献已被 CNKI 维普 等数据库收录！ | |