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| 用光折变晶体的微振动测量装置 | |
| 作者姓名： | 车会生 |
| 摘 要： | 日本东京大学生产技术研究所和芬兰约恩苏 ( Joensuu)大学共同研制出可测量 1 0 nm以下振幅的非接触振动测量系统。用光折变效应 ,即使是散射光也完全可以测量 ,并能抗干扰 ,可在生产现场的恶劣环境下使用。光折变效应是在材料上照射具有空间强度分布的光时 ,折射率发生变化的现象。在材料内部由于光的亮部和暗部使材料内电荷分布产生偏压 ,由此产生的内部电场和电光效应导致折射率发生变化。这个效应具有不依赖于光强度 ,而依赖于对比度的特征 ,因而即使是 1 m W/ cm2 以下的微弱光 ,也能产生明显的折射率变化。图 1 测定系统实例测量系… |
| 关 键 词： | 光折变晶体 微振动测量装置 光折变效应 |
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