测试彩电IC芯片的专用计算机系统 |
| |
引用本文: | 汪宗禹,翁默颖.测试彩电IC芯片的专用计算机系统[J].今日电子,1994(5):36-37,41. |
| |
作者姓名: | 汪宗禹 翁默颖 |
| |
作者单位: | 华东师范大学电子科学技术系
(汪宗禹),华东师范大学电子科学技术系(翁默颖) |
| |
摘 要: | 彩色电视机IC参数的测试不仅为IC制造厂商所必需,也是电视机制造厂所引为重视的事情。随着改革开放的不断深入,电视机IC的供应渠道渐趋多样化,电视机制造厂除了需要对常规的部品进行分析外,为了选择具有最佳的性能价格比的IC供应方向,也必须具备快速地独立鉴别芯片质量的定量测试手段,这对于提高经济效益和社会效益是很有吸引力的。为了适应这一形势,我们于1993年间制成了用于电视机各种系列IC的静态与动态测试系统,该系统适用于IC的生产
|
关 键 词: | 彩电 测试 集成电路 计算机系统 |
本文献已被 CNKI 维普 等数据库收录! |
|