| 射频晶圆测试:半导体生产的紧急需要 |
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| 引用本文： | CarlScharrer. 射频晶圆测试:半导体生产的紧急需要[J]. 世界电子元器件, 2006, 0(5): 72-75 |
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| 作者姓名： | CarlScharrer |
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| 作者单位： | Keithley仪器公司 |
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| 摘 要： | 主要半导体生产商最近承认,开发和生产先进IC卡迫切需要晶片级射频测量。在某种程度上,这一直是 ITRS建模与仿真技术工作组所倡导的:射频紧凑型模型的参数提取更适合将射频测量降到最少。如有必要,
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| 关 键 词： | 半导体生产 射频测量 晶圆测试 C-V测量 紧急 参数提取 仿真技术 模型验证 直接提取 高频电路 |
RF Wafer Testing: an Acute Need, and Now Practical |
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| Carl Scharrer. RF Wafer Testing: an Acute Need, and Now Practical[J]. Global Electronics China, 2006, 0(5): 72-75 |
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| Authors: | Carl Scharrer |
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| Keywords: | |
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