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| 提高TMS320LF2407A内部A/D采样精度和范围的方法 | |
| 作者姓名： | 李超 陈培锋 |
| 作者单位： | 华中科技大学,光电子科学与工程学院,湖北,武汉,430074;华中科技大学,光电子科学与工程学院,湖北,武汉,430074 |
| 摘 要： | 一种提高TMS320LF2407A内部A/D采样精度和采样范围的方法。该方法解决了内部A/D的采样幅值为0～3.3V的瓶颈,并采用TMS320LF2407A内部A/D的两个独立的模拟转换通道的排序器SEQ1和SEQ2对采样对象进行分离,在不影响采样速率的情况下提高A/D的采样精度。 |
| 关 键 词： | 数字信号处理器 TMS320LF2407A 数据采集 |
| 修稿时间： | 2006-06-10 |
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