| 识别X射线能谱重叠峰的一种方法 |
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| 引用本文： | 印建平 高伟建. 识别X射线能谱重叠峰的一种方法[J]. 电子显微学报, 1992, 11(1): 37-42 |
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| 作者姓名： | 印建平 高伟建 |
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| 作者单位： | 苏州大学分析测试中心，苏州大学分析测试中心 |
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| 摘 要： | 本文提出了一种利用EDAX PV9900能谱仪半定量分析(SUPQ)中的峰背拟合(INTE)功能来正确识别X射线能谱重叠峰的可行方法,并以Ag-SnO_2-In_2O_3合金材料为试样给出了几则应用实例和相应的实验结果。初步研究表明,该方法结合定性分析(EDAX)中的谱线识别(ID)功能可正确识别两峰能量差△E仅为20-50eV,甚至△E～10eV,谱峰强度约为两倍背底标准差的重叠峰。
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| 关 键 词： | X射线能谱 峰背拟合 重叠识别 |
A Method of the Identification of EDS Overlap-peaks |
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| Yin Jianping Gao Weijian. A Method of the Identification of EDS Overlap-peaks[J]. Journal of Chinese Electron Microscopy Society, 1992, 11(1): 37-42 |
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| Authors: | Yin Jianping Gao Weijian |
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| Affiliation: | Analytical and Testing Centre of Suzhou University |
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