| 光探测器响应度均匀性的自动测量装置 |
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| 引用本文： | 李同保 万光毅. 光探测器响应度均匀性的自动测量装置[J]. 光电工程, 1993, 20(3): 34-40 |
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| 作者姓名： | 李同保 万光毅 |
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| 作者单位： | 中国测试技术研究院，中国测试技术研究院，中国测试技术研究院，中国测试技术研究院 成都，610061，成都，610061，成都，610061，成都，610061 |
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| 摘 要： | 本文讲述了一种由光学系统、扫描平台、微机为核心组成的光探测器响应度均匀性的自动测量装置。光学系统产生φ0.2mm光斑;在微机控制下,平台可作X,Y方向的25mm平移及绕中心旋转,最小平移进退间距0.01mm,最小旋转角间隔1/24度。测量系统稳定性达0.05%,扫描系统的重复性在0.05%以内,被测探测器定位及光入射角调整误差0.23%,装置的总不确定度0.26%。
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| 关 键 词： | 光探测器 光谱响应 自动测量 |
The Automatic Measuring Unit for the Response Uniformity of Light Detector |
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| Li Tongbao,Wan Guangyi,Zhang Shuzhi,Cao Yuansheng. The Automatic Measuring Unit for the Response Uniformity of Light Detector[J]. Opto-Electronic Engineering, 1993, 20(3): 34-40 |
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| Authors: | Li Tongbao Wan Guangyi Zhang Shuzhi Cao Yuansheng |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | Optical detectors Response characteristics Spectral response Uniformity measurement Automatic measurement. |
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