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浅谈继电器的寿命试验
引用本文:郑天丕,王水君. 浅谈继电器的寿命试验[J]. 机电元件, 2006, 26(2): 28-37
作者姓名:郑天丕  王水君
作者单位:宁波福特继电器有限公司,浙江,宁波,315012;宁波福特继电器有限公司,浙江,宁波,315012
摘    要:谈及继电器寿命试验时应注意的问题,特别是负载接法、激励要求、失效判据及应力公差,提出非本身引起的失效的产品替代方法。同时还指出利用试验数据确定产品寿命及其失效率的方法:对于贯G JB的产品,提出了手头无2χ分布函数表时的计算公式;对于贯GB/T的产品,阐述了在按威布尔函数求可靠性参数时试验数据若不能回归成一条直线,切勿用位置参数γ修正为一条直线的原因。

关 键 词:寿命试验  负载  激励  失效率
文章编号:1000-6133(2006)02-0028-10
收稿时间:2005-09-23
修稿时间:2005-09-23

Talk about the Life Test of Relay
ZHENG Tian-pi,WANG Shui-jun. Talk about the Life Test of Relay[J]. Electromechanical Components, 2006, 26(2): 28-37
Authors:ZHENG Tian-pi  WANG Shui-jun
Abstract:
Keywords:
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