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铌酸锶钡薄膜制备及椭偏光谱研究
引用本文:王正,张曰理,郭扬铭,莫党.铌酸锶钡薄膜制备及椭偏光谱研究[J].功能材料,2004,35(Z1):178-180.
作者姓名:王正  张曰理  郭扬铭  莫党
作者单位:王正(中山大学,光电材料与技术国家重点实验室,物理系,广东,广州,510275);张曰理(中山大学,光电材料与技术国家重点实验室,物理系,广东,广州,510275);郭扬铭(中山大学,光电材料与技术国家重点实验室,物理系,广东,广州,510275);莫党(中山大学,光电材料与技术国家重点实验室,物理系,广东,广州,510275)
基金项目:国家自然科学基金(50372085);教育部留学回国启动基金;广东省自然科学基金(021771)
摘    要:用溶胶-凝胶法成功地制备出了退火温度分别为500、600、700、800、900℃的铌酸锶钡(SBN)薄膜;对制备出SBN薄膜分别进行了椭偏光谱测量研究,得到了不同退火SBN薄膜椭偏光谱参数曲线;并对测得的椭偏光谱进行了数值反演计算,得到了不同退火温度的SBN薄膜的光学常数谱.结果发现SBN薄膜的折射率和消光系数都随着退火温度的增高而增大.

关 键 词:SBN薄膜  溶胶-凝胶法  椭偏光谱
文章编号:1001-9731(2004)增刊-0178-03
修稿时间:2004年3月1日

Study of fabrication and spectroscopic ellipsometry of SBN thin films
Abstract:
Keywords:
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