| 混合信号测试系统S参数测量的校准 |
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| 引用本文： | 蒲璞,张琳,黄成. 混合信号测试系统S参数测量的校准[J]. 微电子学, 2015, 45(4): 552-556 |
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| 作者姓名： | 蒲璞 张琳 黄成 |
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| 作者单位： | 中国电子科技集团公司 第二十四研究所, 重庆 400060,中国电子科技集团公司 第二十四研究所, 重庆 400060,中国电子科技集团公司 第二十四研究所, 重庆 400060 |
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| 摘 要： | 混合信号测试系统一般用于射频或微波电路S参数的测量,但由于厂家无完整的校准方案和软件支持,提供的校准方案只能校准到特定的测量端面,实际测试时端口需要延伸；并且,系统将引入较大的失配和损耗误差,测量结果不能反映器件的真实性能指标,高精度测量受限。以业界主流的大型射频混合信号测试系统LTX-MX为例,分析S参数测量时的系统误差模型和校准方法,为测试工程师使用大型测试系统准确测量S参数提供了一种校准方案,并为后续的高精度测量提供了可行性。
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| 关 键 词： | 射频校准 误差模型 误差修正 S参数测试 LTX-MX |
| 收稿时间： | 2015-01-20 |
Calibration of Scattering Parameter Measurement for the Mixed Signal Test System |
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| PU Pu,ZHANG Lin and HUANG Cheng. Calibration of Scattering Parameter Measurement for the Mixed Signal Test System[J]. Microelectronics, 2015, 45(4): 552-556 |
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| Authors: | PU Pu ZHANG Lin HUANG Cheng |
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| Affiliation: | Sichuan Institute of Solid-State Circuits, China Electronics Technology Group Corporation, Chongqing 400060, P. R. China,Sichuan Institute of Solid-State Circuits, China Electronics Technology Group Corporation, Chongqing 400060, P. R. China and Sichuan Institute of Solid-State Circuits, China Electronics Technology Group Corporation, Chongqing 400060, P. R. China |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | RF calibration Error model Error correction Scattering parameter measurement LTX-MX |
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