| 杜瓦激活对探测器芯片温度影响的理论与试验研究 |
| |
| 引用本文： | 洪晓麦,王立保,沈星,刘道进,张杨文,张丽芳,程海玲,黄立. 杜瓦激活对探测器芯片温度影响的理论与试验研究[J]. 红外, 2021, 42(1): 11-15 |
| |
| 作者姓名： | 洪晓麦 王立保 沈星 刘道进 张杨文 张丽芳 程海玲 黄立 |
| |
| 作者单位： | 武汉高德红外股份有限公司,湖北武汉430205;武汉高德红外股份有限公司,湖北武汉430205;武汉高德红外股份有限公司,湖北武汉430205;武汉高德红外股份有限公司,湖北武汉430205;武汉高德红外股份有限公司,湖北武汉430205;武汉高德红外股份有限公司,湖北武汉430205;武汉高德红外股份有限公司,湖北武汉430205;武汉高德红外股份有限公司,湖北武汉430205 |
| |
| 摘 要： | 杜瓦激活过程会引起探测器芯片温度过冲,导致芯片失效。通过仿真计算分析了吸气剂激活过程中产生的温度分布,研究了探测器芯片在杜瓦激活时温度升高过冲的主要传热途径,并提出了一种吸气剂挡板方案。试验结果表明,该方案可将激活过程中探测器芯片表面的最高温度由105℃降至85℃,解决了激活过程中探测器芯片的温度过冲问题。
|
| 关 键 词： | 红外探测器 吸气剂 杜瓦 激活 |
| 收稿时间： | 2020-09-10 |
| 修稿时间： | 2020-09-18 |
Theoretical and Experimental Research on the Influence of Dewar Activation on the Temperature of Detector Chip |
| |
| HONG Xiao-mai,WANG Li-bao,SHEN Xing,LIU Dao-jin,ZHANG Yang-wen,ZHANG Li-fang,CHENG Hai-lin,HUANG Li. Theoretical and Experimental Research on the Influence of Dewar Activation on the Temperature of Detector Chip[J]. Infrared, 2021, 42(1): 11-15 |
| |
| Authors: | HONG Xiao-mai WANG Li-bao SHEN Xing LIU Dao-jin ZHANG Yang-wen ZHANG Li-fang CHENG Hai-lin HUANG Li |
| |
| Affiliation: | Wuhan Guide Infrared Co., Ltd. |
| |
| Abstract: | The dewar activation process will cause the temperature of the detector chip to overshoot and cause the chip to fail.The temperature distribution in the process of dewar activation is analyzed by simulation.The main heat transfer path of the detector chip with temperature rise and overshoot during dewar activation is studied.A scheme of getter baffle is proposed,which can reduce the maximum surface temperature of the detector chip from 105℃to 85℃,and solve the problem of temperature overshoot in the activation process. |
| |
| Keywords: | infrared detector getter dewar activation |
| 本文献已被 维普 万方数据 等数据库收录！ |
| 点击此处可从《红外》浏览原始摘要信息 |
|
点击此处可从《红外》下载全文 |
|
