| IPM短路测试与短路能力分析 |
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| 引用本文： | 李鑫,沐运华,徐世明,赵承贤. IPM短路测试与短路能力分析[J]. 家电科技, 2015, 0(4) |
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| 作者姓名： | 李鑫 沐运华 徐世明 赵承贤 |
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| 作者单位： | 珠海格力新元电子有限公司 广东珠海519060 |
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| 摘 要： | 本文说明了IPM产品短路测试的基本方法,针对目前市场上常用的IPM产品进行短路测试并取得短路电流波形,分析了影响IPM产品短路能力的几个因素,结果发现,温度越高IPM产品的短路能力越差;驱动电源电压越大,短路耐量越差;IGBT的MOS沟道宽度越宽,IPM的短路能力越差。
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| 关 键 词： | 短路测试 短路能力 IGBT IPM 影响因素 |
Analysis of short circuit test and short circuit performance |
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| LI Xin,MU Yunhua,XU Shiming,ZHAO Chenxian. Analysis of short circuit test and short circuit performance[J]. Science Technology:Mobile Phone Repairing Sky, 2015, 0(4) |
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| Authors: | LI Xin MU Yunhua XU Shiming ZHAO Chenxian |
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