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| 超钚元素分离流程的高灵敏度和定量流线监测方法 | |
| 引用本文： | 朱荣保,王时举,徐颖璞,张增瑞.超钚元素分离流程的高灵敏度和定量流线监测方法[J].中国核科技报告,1986(1). |
| 作者姓名： | 朱荣保 王时举 徐颖璞 张增瑞 |
| 作者单位： | 中国原子能科学研究院 (朱荣保，王时举，徐颖璞)，中国原子能科学研究院(张增瑞) |
| 摘 要： | 本文介绍用于超钚元素分离流程的高灵敏度监测装置和定量分析技术。采用NaI(T1)薄晶体双探头相加谱仪测定X射线和低能γ射线。采用Si(Au)面垒半导体流线监测器测定厚源α谱。描述了监测器的结构和电子仪器,厚源α谱特性的研究结果和定量刻度方法。给出了用于离子交换色层法提取~(248)Am和~(244)Cm流程的实验结果。NaI(T1)薄晶体双探头系统对~(243)Am总加入量的灵敏度好于0.1微居。Si(Au)面垒监测器对镅、锔浓度测定精度为±5％。各收集容器内镅、锔含量分析结果的精度为±10％。 |
| 关 键 词： | 高灵敏度 定量流线监测器 超钚元素 |
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