| 核靶厚度和均匀性测量 |
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| 引用本文： | 许国基,孟祥金.核靶厚度和均匀性测量[J].原子能科学技术,1991,25(3):34-39. |
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| 作者姓名： | 许国基 孟祥金 |
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| 作者单位： | 中国原子能科学研究院 北京
(许国基，孟祥金，罗兴华)，中国原子能科学研究院 北京(关守仁) |
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| 摘 要： | 文章系统地介绍了核靶厚度和均匀性的测量方法,这些方法都有各自的特点:石英微量天平的灵敏度高(0.04μg/cm~2);等效空气α粒子测厚仪的测量范围宽;吸光光度法测量快速而背散射法既能测量核靶厚度又能分析靶膜的杂质。结合以上方法,能测量不同元素和不同种类核靶的厚度和均匀性。
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| 关 键 词： | 靶 均匀性 背散射 分光光度计 核物理 |
THICKNESS AND UNIFORMITY MEASUREMENTS OF NUCLEAR TARGETS |
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| XU GUOJI,MENG XIANGJIN,LUO XINGHUA,GUAN SHOUREN China Institute of Atomic Energy,P. O. Box ,Beijing.THICKNESS AND UNIFORMITY MEASUREMENTS OF NUCLEAR TARGETS[J].Atomic Energy Science and Technology,1991,25(3):34-39. |
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| Authors: | XU GUOJI MENG XIANGJIN LUO XINGHUA GUAN SHOUREN China Institute of Atomic Energy P O Box Beijing |
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| Affiliation: | XU GUOJI,MENG XIANGJIN,LUO XINGHUA,GUAN SHOUREN China Institute of Atomic Energy,P. O. Box 275,Beijing |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | Target Uniformity Backscattering Spectrophotometer |
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