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基于晶体管级参数提取的后仿真
引用本文:孙大成,王爽,刘皓.基于晶体管级参数提取的后仿真[J].微处理机,2010,31(5).
作者姓名:孙大成  王爽  刘皓
作者单位:中国电子科技集团公司第四十七研究所;吉林大学电子科学与工程学院;
摘    要:介绍了时钟电路芯片的功能,给出了Star-RCXT(RC参数提取工具)的晶体管级参数提取及后仿真流程,详细描述了一些基于晶体管级参数提取的版图后仿真设计经验,给出了设计的前、后仿真的输出对比结果.

关 键 词:时钟电路  晶体管级参数提取  版图仿真

The Layout Emulating Based on Transistor Level Extraction
SUN Da-cheng,WANG Shuang,LIU Hao.The Layout Emulating Based on Transistor Level Extraction[J].Microprocessors,2010,31(5).
Authors:SUN Da-cheng  WANG Shuang  LIU Hao
Affiliation:SUN Da-cheng1,WANG Shuang1,LIU Hao2(1.The 47th Research Institute of China Electronics Technology Group Corporation,Shenyang 110032,China,2.College of Electronic Science and Engineering,Jilin University,Jilin 130012,China)
Abstract:
Keywords:Clock circuit  Transistor level parameter extraction  Layout emulating  
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