| 基于降温法的直接重写磁光记录薄膜居里温度的快速测量 |
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| 引用本文： | 李震,邱进军,朱全庆,胡用时.基于降温法的直接重写磁光记录薄膜居里温度的快速测量[J].磁性材料及器件,2000,31(6):8-11. |
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| 作者姓名： | 李震 邱进军 朱全庆 胡用时 |
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| 作者单位： | 华中科技大学电子科学与技术系,湖北武汉,430074 |
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| 摘 要： | 在测量单层或多层磁光记录薄膜的居里温度时 ,为了达到有目的测量和提高测量的效率 ,采用了在快速升温过程中 (<5min) ,在感兴趣的温度范围里观察被测薄膜 Ms～ T曲线变化的全过程 ;然后 ,初步判断薄膜的居里温度可能在哪个温度区域里 ,决定是否需要精确测量 ;最后 ,若决定测量 ,选择居里温度附近的一段温度区域里利用降温过程测量。整个测量过程比采用逐步升温、并在每个恒定的温度上读取饱和磁化强度 Ms的方法节省大量的时间。只要选择一类响应时间快的热电偶 ,可以达到与逐步升温方法同样的测量精度。
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| 关 键 词： | 快速测量 直接重写磁光记录薄膜 居里温度 降温法 |
A Rapid Measurement Method of Curie Temperature for DOW Recording Thin Films Based on Down-turn of Temperatures |
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| LI Zhen,QIU JIn-jun,ZHU Quan-qing,HU Yong-shi.A Rapid Measurement Method of Curie Temperature for DOW Recording Thin Films Based on Down-turn of Temperatures[J].Journal of Magnetic Materials and Devices,2000,31(6):8-11. |
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| Authors: | LI Zhen QIU JIn-jun ZHU Quan-qing HU Yong-shi |
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