| 霍耳效应测试系统 |
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| 引用本文： | 徐向东,马翼桂.霍耳效应测试系统[J].红外与激光工程,1996,25(3):26-33. |
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| 作者姓名： | 徐向东 马翼桂 |
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| 作者单位： | 航天工业总公司第三研究院八三五八所 |
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| 摘 要： | 本文介绍了全自动“霍耳效应测试系统”的基本构成,并对每个分系统作了较为详细地描述。本系统具有测量样品类型全、数量多、测试速度快、测量和控制软件功能全、使用方便等特点。
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| 关 键 词： | 霍耳效应 芯片测试仪 自动测试设备 红外探测器 |
HALL EFFECT TEST SYSTEM |
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| Xu Xiangdong,Ma Yigui.HALL EFFECT TEST SYSTEM[J].Infrared and Laser Engineering,1996,25(3):26-33. |
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| Authors: | Xu Xiangdong Ma Yigui |
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| Abstract: | The automatic "Hall Effect Test System" (HETS) which is completed recently is described in this paper in detail. The HETS is advanced in fast test of multiple samples with a set of user-friendly measurement and control software. |
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| Keywords: | Hall effect Wafer prober Automatic test equipmentInfrared detector |
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