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直流输电用特高压晶闸管大气中子失效率评估和损伤机理
引用本文:彭超,周杨,陈中圆,雷志锋,马腾,张战刚,张鸿,何玉娟.直流输电用特高压晶闸管大气中子失效率评估和损伤机理[J].原子能科学技术,2024(1):248-256.
作者姓名:彭超  周杨  陈中圆  雷志锋  马腾  张战刚  张鸿  何玉娟
作者单位:1. 工业和信息化部电子第五研究所,电子元器件可靠性物理及其应用技术重点实验室;2. 国家电网有限公司
基金项目:国家电网公司科学技术项目;
摘    要:本文基于散裂中子源开展了直流输电用8.5 kV/5 kA晶闸管的加速辐照试验。试验证实了大气中子导致的晶闸管单粒子烧毁失效现象,同时基于加速辐照试验结果计算了大气中子导致的晶闸管失效率。晶闸管的反向偏置电压和结温是影响晶闸管器件失效的关键因素。大气中子失效率随着反向偏置电压的增加呈指数增加。此外,失效率随温度的降低而增加。对应器件偏置在50%额定电压下的情况,5℃时的失效率较25℃时增加了近6倍。基于TCAD仿真进一步验证了辐照导致晶闸管失效的机理。仿真表明,单粒子烧毁失效与辐射粒子入射诱发的雪崩击穿效应直接相关。雪崩击穿效应与晶闸管反向偏置电压正相关,而与结温负相关,这与大气中子失效率随电压和结温的变化关系一致。

关 键 词:晶闸管  单粒子效应  大气中子  失效率
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